B. Pešić, S. Dimitrijev, N. Stojadinović, "Sudden Failures Associated with the Gate Oxide of CMOS Transistors", Microelectronics and Reliability, vol. 28, pp. 643-648 (1988).
|
E. Jovanović, D. Pantić, B. Pešić, D. Pantić, “3D Simulation of Vertical Hall Device”, Proc. 7th International Symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems, Sofia-Sozopol, September 2003 (pp. 138-143). | |||
A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, “3-D Simulation of Riveted Electric Contacts – Temperature and Yield Stress Distributions”, Proc. 7th International Symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems, Sofia-Sozopol, September 2003 (pp. 57-62). | |||
A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, “Temperature and Yield Stress Characterization of Electric Contacts by 3D Numerical Simulation”, Serbian J. Electrical Eng., vol. 2, No 1, pp. 77-91 (2005). | |||
Lj. Vračar, B. Pešić, N. Stojadinović, “Computer as Powerful Tool in Reliability Testing of Thin Gate Dielectrics in MOS Devices”, Proc. International Conference on “Computer as Tool” - EUROCON 2005, Belgrade, November 2005 (pp. 1159-1162). | |||
A. Prijić, Z. Prijić, B. Pešić, “A New Method of Evaluation of Liquidus Temperatures of Ternary Alloys”, Proc. 25th International Conference on Microelectronics (MIEL'06), Belgrade, May 2006 (pp.359-399). | |||
A. Prijić, Z. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, “Analysis of Electrical and Thermal Characteristics of Thermal Cutoffs”, Proc. XLII International Scientific Conference on Information, Communication and Energy Systems and Technologies (ICEST 2007), Ohrid, June 2007 (pp. 827-830). | |||
Aneta Prijić, Biljana Pešić, Zoran Prijić, Dragan Pantić, Zoran Pavlović, “3D simulacija električnih i termičkih karakteristika električnih kontakata”, Zbornik radova IV simpozijum INDEL 2002, pp. 25-27, Banja Luka, 2002
Elva Jovanović, Danijela Pantić, Tatjana Pešić, Dragan Pantić, “Karakteristike VDMOS tranzistora sa super spojem”, Zbornik radova IV simpozijum INDEL 2002, pp. 22-24, Banja Luka, 2002.
Aneta Prijić, Biljana Pešić, Zoran Prijić, Dragan Pantić, Zoran Pavlović, “3D simulacija mehaničkih, električnih i termičkih karakteristika električnih kontakata”, Zbornik radova XLVII Konf. za ЕTRAN, Herceg Novi, 2003
Elva Jovanović, Tatjana Pešić, Danijela Pantić, Biljana Pešić, Dragan Pantić, ”2D i 3D simulacija poluprovodničkih mikrokomponenata korišćenjem TCAD softverskih paketa”, YUINFO 2004, Kopaonik, 2004.
Elva Jovanović, Biljana Pešić, Dragan Pantić, ”3D simulacija tehnološkog niza za proizvodnju i električnih karakteristika krstastog Holovog senzora ”, Zbornik radova XLVIII Konf. za ЕTRAN, Čačak, 2004.
Elva Jovanović, Danijela Pantić, Biljana Pešić, Dragan Pantić, “3D simulacija split-drejn MOSFET-a ”, Zbornik radova XLIX Konf. za ЕTRAN, Budva, 2005
Aneta Prijić, Biljana Pešić, Zoran Prijić, Dragan Pantić, Stojan Ristić, “Analiza karakteristika termičkih prekidača 3D numeričkom simulacijom ”, Zbornik radova VIII simpozijum INDEL 2006, Banja Luka, 2006.
S. Aleksić, D. Pantić, B. Pešić, “Analiza uticaja površinskih stanja na karakteristike VDMOS tranzistora snage kotišćenjem TCAD softverskog paketa”, Zbornik radova 56. konferencije ETRAN, Zlatibor, 11 – 14. juna 2012
Sanja Aleksić, Biljana Pešić, Dragan Pantić , “TCAD analiza HEFS degradacije električnih karakteristika n-kanalnog VDMOSFET-a”, Zbornik radova 57. konferencije ETRAN, Zlatibor, 3 – 6. juna 2013.